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产品开辟背景

在电子显微学范畴，浩瀚显微镜学家和工程师一向在寻求分辨率的改良。同时，JEOL致力于进步透射电子显微镜(TEM)的稳定性。经由过程将像差校订技巧与上述尽力你相结合，我们已成功实现超高的分辨率。

JEM-ARM300F (GRAND ARM(TM))是一款原子分辨率TEM，旨在实现同类最佳的分辨率。然则，现代TEM的需求同时包含对硬质材料及软质材料的表征。在这种情况下，TEM用户渴求进一步改良分辨率和分析，并获得更高的精确度。

日本电子股份有限公司开辟了一款可知足所述请求的新的TEM，即JEM-ARM300F2 (GRAND ARM(TM)2)。这款超高原子分辨率分析TEM搭载诸多功能。特别是，借助新型物镜极靴FHP2，GRAND ARM(TM)2实现了超高原子分辨率成像与同类最佳的大年夜立体角EDS元素分析的最佳组合。

GRAND ARM(TM)2的标准设备包含外壳，该外壳可削减外部干扰，从而进步仪器的稳定性。

重要特点

1. 超高空间分辨率与高灵敏度X射线分析的最佳组合。

重要规格

2. 物镜的宽间隙极靴(WGP)有助于超高灵敏度的X射线分析。
该极靴的上磁极和下磁极之间的间隙较大年夜，具有以下长处：
2) WGP可容纳较厚的样品架，从而可以进行各类类型的原位实验。

3. 日本电子股份有限公司开辟的球差(Cs)校订器已整合到显微镜柱中，供给超高的空间分辨率。
新开辟的FHP2物镜极靴的特点如下：
1) 结合FHP2时，GRAND ARM(TM)2在300kV时的STEM分辨率达到53pm。
2) 结合WGP时，GRAND ARM(TM)2在300kV时的STEM分辨率达到59pm。
3) JEOL COSMO(TM)（校订体系模块）可以快速、轻松地进行像差校订。

4. 标配冷场发射枪(Cold-FEG)。
GRAND ARM(TM)2配有Cold-FEG，使得电子源扩散的能量较小。

5. 削减外部干扰的外壳
这种新的外壳是削减气流、室温变更和声学噪声等外部干扰的标准设备。

年度单位发卖目标

10套/年

日本电子股份有限公司
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Izumi Oi，总裁兼首席运营官
（股票代码：6951，东京证券交易所第一部）
www.jeol.com

原文版本可在businesswire.com上查阅：https://www.businesswire.com/news/home/20200213005977/en/

东京--(美国贸易资讯)--日本电子股份有限公司(JEOL Ltd., TOKYO:6951)（总裁兼首席运营官：Izumi Oi）宣布推出新的原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2 (GRAND ARM(TM)2)，该电子显微镜将于2020年2月宣布。

免责声明：本通知布告之原文版本乃官方授权版本。译文仅供便利懂得之用，烦请参照原文，原文版本乃独一具司法效力之版本。

接洽方法：

日本电子股份有限公司
科学与测量仪器发卖部
2) 低光学系数、低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨率和高灵敏度X射线分析可在必定范围的加快电压下履行。
Hideya Ueno
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

JEM-ARM300F2（照片：美国贸易资讯）